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芯片的失效分析,电子盐雾测试

更新:2024-05-17 11:00 发布者IP:112.81.163.228 浏览:0次
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芯片的失效分析,电子盐雾测试
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产品详细介绍

芯片的失效分析,电子盐雾测试

本文的其余部分讨论了XC2064的内部电路,从裸片照片中的反向工程。 

下图显示了XC2064芯片的布局。FPGA的主要部分是8×8的网格。每个图块包含一个逻辑块和相邻的路由电路。尽管图片显示将逻辑块(CLB)显示为与围绕它们的路由不同的实体,但这并不是 FPGA的实现方式。取而代之的是,每个逻辑块和相邻路由都实现为单个实体,即图块。(具体来说,图块包括每个CLB上方和左侧的路由。)

XC2064芯片的布局

I/O模块围绕集成电路的边缘提供与外界的通信。它们连接到小的绿色方形焊盘,该焊盘连接到芯片的外部引脚。裸片被缓冲区(绿色)划分:两个垂直和两个水平。这些缓冲器可放大在电路中传播很长距离的信号,从而减少延迟。垂直移位寄存器(粉红色)和水平列选择电路(蓝色)用于将比特流加载到芯片中,如下所述





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