材料反射率检测，固体有机物熔点的测定
使用RITTeR-WeIseR公式校准到其值的a-sI：H样品的吸收系数光谱示例。测量由FTIR光谱仪完成，使用两个探测器和一个滤光片，高通超过746nm。
方程14
其中，R1为a-sI：H薄膜的背面界面的反射率，即光入射到a-sI：H层时的界面a-sI：H/衬底，或光通过衬底入射时的界面a-sI：H/环境。
R1的值实际上是光谱相关的，但它的变化对等式计算的α（E）的值只有微弱的影响（方程14）我们使用近似恒定值R1=0.21作为a-sI：H薄膜的前照明，R1=0.36通过衬底照明。
这样我们可以得到单位（cm−1）的光吸收系数α（E）的光谱依赖性。图12显示了使用上述程序进行校准的吸收系数光谱。可以看出，干涉条纹几乎完全被抑制，光谱以值（cm−1）给出。