测量反射率，测定熔点的标准方法
将A/T，A为吸收率值，T为透射率值，通过分析R、T和A，在吸收率足够高以抑制干扰效应时达到juedui尺度。
我们将相对光谱A/T纳入juedui尺度E0，光谱的吸收率足以抑制薄膜中的多次反射（例如T=0.05)，T和R的值几乎没有干涉条纹（见图7)。
对于a-sI：H，入射光时，反射率R为R= 0.41，对于入射在衬底侧的光，反射率R为R=0.26。我们将该值与T=0.05一起计算参考点E0，A=1TR的吸收值，给出光入射薄膜时的A=为0.54，衬底侧的A=为0.69。参考点E0处的A/T对于入射到薄膜侧的光等于10.8，对于基底侧等于13.8。
| 成立日期 | 2023年09月26日 | ||
| 法定代表人 | 周修芳 | ||
| 注册资本 | 1000 | ||
| 主营产品 | 国军标测试、gjb150可靠性检测、检测环境可靠性测试、汽车电子产品检测 | ||
| 经营范围 | 汽车零部件电子产品检测技术服务 | ||
| 公司简介 | 万博检测从事第三方公正检测、咨询服务。公司拥有的检测技术团队与经验丰富高素质的实验室管理人员。万博检测已建设成为一个集环境可靠性试验、材料性能测试、电磁兼容（EMC）、安规测试、化学分析、理化检测为一体的大型综合性检测服务机构。服务能力覆盖军用/民用、电子电器、汽车、材料、航空航天、通用设备、船舶、机械、医疗器械、纺织玩具、橡胶塑料、运输包装等应用领域，现有规模、测试能力和水平处于行内检测机构的高 ... | ||
