反射率光谱测量，陶瓷熔点测试
X射线反射率测试又称XRR（X-RayReflectivity）是一种方便、快速的分析单层或多层薄膜和表面的方法，是一种纳米尺度上的分析方法，可实现无损分析。例如，通过原子层沉积(ALD)技术沉积的薄膜可以用XRR表征薄膜的厚度、密度和界面的粗糙度，同样也适用于其他方法制备的薄膜，如通过分子层沉积(MLD)沉积的有机/无机超晶格等。
用途
百纳米内膜层厚度的jingque测量（理论精度0.05nm）以及膜层密度，界面粗糙度测定。
样品要求
样品表面平整光滑，粗糙度小于5nm
尺寸2x2cm左右，样品高度小于1cm
| 成立日期 | 2023年09月26日 | ||
| 法定代表人 | 周修芳 | ||
| 注册资本 | 1000 | ||
| 主营产品 | 国军标测试、gjb150可靠性检测、检测环境可靠性测试、汽车电子产品检测 | ||
| 经营范围 | 汽车零部件电子产品检测技术服务 | ||
| 公司简介 | 万博检测从事第三方公正检测、咨询服务。公司拥有的检测技术团队与经验丰富高素质的实验室管理人员。万博检测已建设成为一个集环境可靠性试验、材料性能测试、电磁兼容（EMC）、安规测试、化学分析、理化检测为一体的大型综合性检测服务机构。服务能力覆盖军用/民用、电子电器、汽车、材料、航空航天、通用设备、船舶、机械、医疗器械、纺织玩具、橡胶塑料、运输包装等应用领域，现有规模、测试能力和水平处于行内检测机构的高 ... | ||
