钎焊膏检测，矿产品检测公司

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从4Be到92U均可分析，灵敏度达10-2％,并可作元素微区线、面扫描分析，确定试样中元素的分布状况。配备二次离子质谱仪(SIMS)附件，可分析试样微区范围内各种元素。配备高温、低温、拉伸、弯曲、疲劳及压痕等试验装置后，可观察试样在不同温度和受力状态下的微观结构变化，为材料的强度与断裂理论研究和应用研究提供大量新的信息。仪器采用1.33×(10-5～10-8)帕超高真空技术，减少试样的污染，配备微型电子计算机控制操作及处理数据，提高了仪器的自动化程度和图像质量。配备电影摄影机或电视录像机，可连续记录试样微观结构的变化情况。

扫描俄歇电子显微术(SAM) 　由扫描电镜分析技术和俄歇电子能谱分析技术结合而成的微观结构分析技术。俄歇电子的能量和试样表面激发原子的原子序数及化学价态等有关。当直径为几十至几百埃的电子束在试样表面扫描时，通过筒镜型能量分析器接收从试样原子发射出来的俄歇电子，可得到试样表面形貌及表面结构图像。新型扫描俄歇电子显微镜，可观察试样表面深度为10埃以内的元素分布图像，分辨率达500埃。适用于除氢、氮以外的各种元素，用于原子序数为3～10的轻元素。在钢铁、有色金属、玻璃、陶瓷等材料的表面物理、表面化学研究工作中得到应用。