焊接牢固度检测，矿石铝含量检测

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电子显微镜。一种以高速运动的电子束作为“光源”或激发源，对物体的微观结构进行放大分析观测的电子光学仪器，可分为透射电镜(TEM)、扫描电镜(SEM)、扫描透射电镜（STEM）、反射电镜（REM）、点投影电镜(PPEM)及场发射电镜(FEEM)等，其中以透射电镜和扫描电镜应用为Zui广泛。近十几年来，还发展了分析透射电镜、分析扫描电镜以及附有俄歇电子能谱仪（AES）、扫描俄歇电镜(SAM)、X射线光电子谱(XPS)及紫外光电子谱(UPS)等功能的表面微观分析电镜，广泛用于材料的微区形貌、化学组成、化学价态和电子能态的研究。

②透射电镜。由电子枪发射的高速电子束透过试样，经电磁透镜成像放大，在终端荧光屏、电视荧光屏或电子摄影底片上获得试样的显微图像。

透射电镜的电子放大率可从数百倍连续改变到100万倍以上，其点分辨率已近1埃，晶格分辨率可达1埃以内，能直接观察到一些特殊样品中单个重原子和薄晶体中的原子排列图像。