焊接件的无损检测，方钢检测

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晶体结构分析方法 　X射线晶体结构分析法是利用X射线与晶体相互作用产生衍射现象，探测衍射谱的分布位置和强度，进行晶体微观结构分析的技术。主要有用于测定晶体结构、点阵常数、晶粒大小，研究晶体内应力和点阵畸变的多晶体分析方法。

表面微区结构分析方法 　主要有以下几种：

俄歇电子能谱法(AES) 可根据测量试样受激后发射出来的俄歇电子的固有能谱，对试样表面原子的价态、结合状态进行研究，并通过测量因化学结合状态，即价电子变化引起原子内壳层能级变化而出现的俄歇电子能谱的能量和峰的形状发生的化学位移（也称化学效应），进行表面原子的状态分析。

电子探针法(EPMA) 　当直径约为0.1～1微米的电子束轰击试样表面时，原子受激而产生特征X射线谱。通过探测X射线谱的精细结构，如谱的波长、形状、相对强度比的变化及产生的体线等，从而确定试样中元素的化学状态和结构状态。