半导体化验测试，变电设备x光检测

半导体化验测试，变电设备x光检测

动态热流计法可以测试不同温度下的热焓和比热容，也能测量相变材料的熔点温度区间，在测试过程中热板温度是以很小的间隔（如0.5~1℃）进行台阶式上升或下降，测量温度变化过程中的热流计输出信号，由此可确定不同温度下的测量结果。测试过程中样品上下两表面和样品中心处的温度和热流变化曲线如图2所示。

图2 ASTM C1784法测试过程中的温度和热流变化曲线

从上述动态热流计法的测试过程可以看出，整个测试过程对样品表面的温度变化及其控制有以下几方面的要求：

（1）台阶式温升控制过程要求产生尽可能小的温度超调，减少热流测量值的积分误差。

（2）0.5℃甚至更小的温升步长或台阶，这就要求具有温度控制具有足够高的控制精度，如至少要达到0.02℃的控温精度才能实现不超过4%的测量误差。

（3）测试过程中，需要通过多个台阶升温测试过程才能完成全温度范围的测试，整个测试试验过程非常漫长。为此需要每个台阶升温过程的时间尽可能短，特别是从一个温度上升恒定到下一个更高温度台阶时的用时越小越好，还需满足温度不超调要求。

（4）整个控温过程除了快速和无超调外要求之外，还需能进行可编程自动温度控制，可根据温度范围和温度变化步长设置温度变化程序控制曲线，由此可实现整个过程的自动测试。

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