半导体电阻率检测，温度快速变化试验

半导体电阻率检测，温度快速变化试验

四探针法通常用来测量半导体的电阻率。四探针法测量电阻率有个非常大的优点，它不需要较准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法较准。

与四探针法相比，传统的二探针法更方便些，因为它只需要操作两个探针，处理二探针法得到的数据却很复杂。如图一，电阻两端有两个探针接触，每个接触点既测量电阻两端的电流值，也测量了电阻两端的电压值。

我们希望确定所测量的电阻器的电阻值，总电阻值：

RT=V/I=2RW+2RC+RDUT；其中RW是导线电阻，RC是接触电阻，RDUT所要测量的电阻器的电阻，显然用这种方法不能确定RDUT的值。矫正的办法就是使用四点接触法，即四探针法。如图二，电流的路径与图一中相同，测量电压使用的是两个接触点。电压计测量的电压也包含了导线电压和接触电压，但由于电压计的内阻很大，通过电压计的电流非常小，导线电压与接触电压可以忽略不计，测量的电压值基本上等于电阻器两端的电压值。

通过采用四探针法取代二探针法，电流所走的路径是一样的，但由于消除掉了寄生压降，使得测量变得精que了。四探针法在后来，已经变得十分普及，命名为四探针法。

HEST-800高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精que度，也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。