高分子性能检测，xps价态分析多少钱
XPS是进行样品表面元素组成及化学态分析的重要实验技术之一，其探测深度在10nm以内，可检测元素周期表中除H,He以外的几乎所有元素。可做以下几个方面的分析研究：
（1）对样品表面元素进行定性、定量分析；
（2）可分析元素的化学状态（包括元素价态、晶格位置和化学环境等）；
（3）对薄膜样品进行深度分布分析，给出元素随样品深度分布信息；
（4）对元素及其化学态进行成像，给出不同化学态的不同元素在表面的分布图像。
主要技术指标
（1）佳能量分辨率￡ 0.45eV；
（2）佳空间分辨率￡ 3μm（XPS成像）；
（3）单色光源佳灵敏度：1,000,000 cps (AlKα 0.60eVAg3d5/2峰) ；
（4）分析室佳真空度可达1.7′10-10 mbar；
（5）离子枪束斑 < 150μm。
送样要求（送样之前，请仔细阅读送样要求！）
（1）样品为非磁性，无腐蚀性；
（2）样品不吸水，在超高真空中及X光照射下不分解，不释放气体；
（3）只测固态样品，可测块状、粉末及薄膜样品。
块状样品：表面要平整，大小不超过3′3′2mm3；
粉末样品：要压成薄片（厚度1mm左右即可）；
薄膜样品：测试面要做好标记。
