手机整机可靠性测试，swaat盐雾试验
可靠性常用的分布
1 、 指数分布； 第一章里提到浴盒曲线对应的指数分布为 F(t)＝1 -e-?t； 如何得到这一分布？
设产品在 t 时间内总的失效率 F(t)， 则：
在 t 时刻产品的存活率 R(t)=1 -F(t)；
在 t 时刻的失效为 t 时间内的失效率的导数、 即 f(t)=F’ (t)；
在 t 时刻的失效率为 t 时刻的失效比 t 时刻的存活率、 即 f(t)/R(t)。
根据浴盆曲线， 当产品在稳定失效阶段时任意时刻的失效率为λ 。
综上， 即得到等式： λ ＝f(t)/R(t)=F’ (t)/(1 -F(t))；
解此微分方程得到一个特解： F(t)＝1 －e-?t；
R(t)=e-?t， 这就是指数分布；
2、 威布尔分布； 与指数分布相比， 只是变量λ 不一样。 威布尔分布的 F(t)=1 -e^(-t/a)^b； 当 b＝1时， F(t)=1 -e^(-t/a)，
这也就是指数分布； 我们威布尔分布来看看其它参数：
R(t)＝1 -F(t)=e^(-t/a)^b；
f(t)＝F`(t)=(b/t)*(t/a)^b*e^(-t/a)^b；
失效率＝f(t)/R(t)＝(b/t)*(t/a)^b；
3、 对数正态分布； 顾名思义， 说明产品在 t 时间内的失效率与 t 服从对数正态分布， 也就是说 F(t)与ln(t)成正态分布。
标准表达式为： F(t)=Φ((lnt-ln(T50))/δ )；
根据各种分布， 都可以方便地求出产品 MTBF。
要求出产品的 MTBF 就必须找到样品的失效时间， 这样我们必须取出一定的样品做特定的测试、 记录样品的失效时间，
计算产品的 MTBF。 在开始计算 MTBF 之前， 我们先插述各种测试的筛选强度， 也就是此种测试能发现样品存在
缺陷的可能性。
三、 筛选强度
在进行环境应力筛选设计时， 要对所设计的方案进行强度计算。 这样才能更有效的析出产品缺陷。 在典型筛选应力选择时，
一般恒定高温筛选用于元器件级， 温度循环用于板级以上产品； 温度循环的筛选强度明显高于恒定高温筛选。 下面介绍一
些筛选强度（SS） 的数学模型。
1 、 恒定高温筛选强度
SS=1 -exp [-0.001 7(R+0.6)0.6t]
式中： R—高温与室温(一般取 25℃)的差值； t—恒定高温持续时间(h)； 例： 用 85℃对某一元器件进行 48H的筛选， 则其
筛选强度为:44.5% =1 - EXP(-0.001 7*((85+0.6)^0.6)*48)；
2、 温度循环的筛选强度
SS=1 -exp{-0.001 7(R+0.6)0.6[Ln(e+v)]3N}
式中： R—温度循环的变化范围（℃）； V—温变率（℃/min）； N—温度循环次数； 例： 用 60℃到－40℃以 10℃/min 的速
率 做 1 5 次 循 环 （ 每 个 循 环 20min ， 1 5 个 共 计 5H ） 则 对 应 的 筛 选 强 度 为：
99.87%=1 -EXP(-0.001 7*((1 00+0.6)^0.6)*((ln(2.71 8+1 0))^3)*15)；
3、 随机振动的筛选强度
SS=1 -exp{-0.0046(Grms)1 .71 ·t}
式中： t—为振动时间（min）； Grms---单位 G； （这个地方我也没有找到资料）。
四、 MTBF 的计算
1 、 基本 MTBF 的测试
在实际工作过程中， 很多时候并不需要**在知道某个产品的 MTBF， 只需要知道是否可以接受此产品。 这时， 只需要对
产品进行摸拟运行测试， 当产品通过了测试时， 就认为产品达到了要求的 MTBF， 可以接受此产品。
如何确定产品应该进行什么样的测试， 也就是我们应该用多少样品进行多长时间的测试？ 根据 MTBF（平均失效间隔时间）
的定义， 从“平均” 这一个看来， 失效的次数越多计算值就越能代表“平均值”， 当然失效的次数越多对应的总测试时间也
就越长； 一般情况下要求： 只要测试时间允许， 失效的次数就应该取到尽可能地多。
下面用一个例子来说明测试条件的确定方法。
题五： 某种产品， 要求在 90%的信心度下 MTBF 为 2000H， 如何判定此产品的可靠性是否达到了规定的要求？
可以转化为判定此产品是否能通过规定时间的模拟运行测试， 其关键是要找出测试时间； 测试时间＝A× MTBF， A 这个因
子与“在这段时间内允许失效的次数” 和“90%的信心度” 有关系。 根据已经成熟的体系， 直接代用公式：
A＝0.5*X2（1 -a， 2(r+1 )）
X2（1 -a， 2(r+1 )） 是自由度为 2(r+1 )的 X 平方分布的 1 -a 的分位数；
a 是要求的信心度， 为 90%； r 是允许的失效数， 由你自己决定；
此分布值可以通过 EXCEL 来计算， 在 EXCEL 中对应的函数为 CHIINV；
如允许失效 1 次时， A=0.5*CHIINV(1 -0.9,2*2)=0.5*CHIINV(0.1,4)＝0.5*7.78＝3.89； 应该测试的时间为： 3.89×2000
＝7780H。 也就是当设备运行 7780H 是只出现一次失效就认为此产品达到了要求的可靠性。
7780H 是 324 天（7780/24＝324）， 快一年了， 做一次测试花一年的时间？ 太长！ 我们可用这样去调整：①增加测试的总
样品数； 7780 从统计上看， 准确地说是 7780 台时、 它是“机台×时间” 这样一个量，也就是所有样机的测试时间总和；
如果测试中有 50 台样机， 则只需要测试 1 55.6H； 如果有 1 00 台样机， 则只需要测试到 77.8H（强烈建议在MTBF 的测试
中采用尽可能多的样品数）； ②减少允许失效的次数； 允许失效的次数为 0 时， 同上计算后得到测试时间为 4605台时（一
般不建议采用此种方式来缩短测试时间， 这样会增大测试的误差率）。
对于价格较低、 数量较多的产品（如各种元器件、 各种家用电器等）， 用上面介绍的方法， 可以很方便地进行测试； 但当产
品的价格较高、 MTBF 较高的产品如何测试？
