连接器电阻测试，产品可靠性试验
粒子碰撞噪声检测试验
通过换能器检测噪声。试验要求将微电路*大的扁平面借助于粘附剂安装在换能器上，先施以峰值加速度为(9 800+-1960)m／s2延续时间不大于100μs冲击脉冲。
然后再施以频串为40Hz一250Hz，峰值加速度为196m／s2振动，随后再使冲击应力与振动应力同时施加和单独施加振动应力，交替进行一定次数，若检测出噪声，则表示微电路腔体内有可动多余物。
有的微电路内引线较长。长引线的颤动也可能检测出噪声，改变振动频率，噪声有变化时其噪声往往是由长引线的颤动产生的。所用粘附剂应对其传送的机械能量有较小的衰减系数．冲击脉冲的峰值加速度、延续时间和次数应严格控制，否则试验可能是破坏性的。
粒子碰撞噪声检测试验(PIND：Particle Impact NoiseDetection)的目的是检验微电路空腔封装腔体内是否存在可动多余物。
可动导电多余物町能导致微电路内部短路失效。试验原理是对微电路施加适当的机械冲击应力使粘附微电路腔体内的多余物成为可动多余物。再同时施加振动应力，使可动多余物产生振动，振动的多余物与腔体壁撞击产生噪声。
静电放电敏感度试验
静电放电敏感度试验可以给出微电路承受静电放电的能力。它是破坏性试验。
试验方法是模拟人体、设备或器件放电的电流波形，按规定的组合及顺序对微电路的各引出端放电。寻找出傲电路产生损伤的阀值静电放电电压。以微电路敏感电参数的变化量超过规定值的*小静电放电电压，作为微电路抗静电放电的能力的表征值。