电子元器件可靠性试验，连接器气密测试

电子元器件可靠性试验，连接器气密测试

快速温度变化试验

      快速温变是规定了温度变化速率的温度变化，常常模拟昼夜温差大的地区环境，也可用于寿命试验，用以考核元器件或产品的外观、机械性能及电气性能。

测试范围：温度:-70℃~150℃
测试参数：温度变化速率≤10℃/分钟
温度变化速率10~25℃/分钟

低气压试验

      低气压试验箱主要用于航空、航天、信息、电子等领域，确定仪器仪表、电工产品、材料、零部件、设备在低气压、高温、低温单项或作用下的环境适应性与可靠性试验。

测试范围：压力:常压~10KPa
温度：常温~200℃
测试参数：1立方

臭氧测试

      臭氧测试适用于适用于测试橡胶制品非金属材料、有机材料（如：涂料、油漆、橡胶、塑胶、及其制品）的耐臭氧老化性能和老化龟裂试验。

测试范围：浓度: 0~500pphm
温度: 室温~50℃
测试参数：550*500*700mm

高压蒸煮（HAST）

       高压蒸煮试验采用高压高湿条件，考核塑料封装的半导体集成电路等电子器件的综合影响，是用高加速的试验方式评价电子产品耐湿热的能力，常用于产品开发、质量评估、失效验证。

测试范围：温度：105~142.9℃
湿度：75%~****
压力：0.02~0.186Mpa
测试参数：400*280*270mm

防尘防水试验/IP等级

      防尘防水试验/IP等级主要针对在户外或使用环境恶劣的电子产品及设备，表示法为IPXX，第一位特征数字所表示的防止接近危险部件和防止固体异物进入的防护等级，第二位特征数字所表示的防止水进入的防护等级。

测试范围：IP XX
测试参数：防尘: 1~4X
防尘: 5~6X
防水: X1~7

UV紫外光老化试验

      用于模拟对阳光、潮湿和温度对材料的破坏作用;材料老化包括褪色、失光、强度降低、开裂、剥落、粉化和氧化等。

测试范围：UVA340/UVB313/ UVA351
测试参数：单个样品尺寸为6*9cm

氙灯老化/太阳辐射

      用模拟全阳光光谱的氙弧灯来再现不同环境下存在的破坏性光波，可以为科研、产品开发和质量控制提供相应的环境模拟和加速试验。

测试范围：黑板温度范围为25℃~90℃
测试参数：XE-3-HSC