元器件可靠性试验，连接器气密性测试

元器件可靠性试验，连接器气密性测试

环境可靠性测试标准

低温：IEC 60068-2-1、GB/T 2423.1;

高温：IEC 60068-2-2、GB/T 2423.2;

恒定湿热：IEC 60068-2-78、GB/T 2423.3;

交变湿热：IEC 60068-2-30、GB/T 2423.4;

冲击：IEC 60068-2-27、GB/T 2423.5;

低气压试验：IEC 60068-2-13、GB/T 2423.21;

温度变化：IEC 60068-2-14、GB/T 2423.22;

振动：IEC 60068-2-6、GB/T 2423.10;

盐雾：IEC 60068-2-11、GB/T 2423.17、IEC 60068-2-52、GB/T 2423.18;

低温/低气压综合试验：GB/T 2423.25、IEC 60068-2-40;

高温/低气压综合试验：GB/T 2423.26、IEC 60068-2-41;

高浓度二氧化硫试验：GB/T 2423.33;

温度/湿度组合循环试验：IEC 60068-2-38、GB/T 2423.34;

低温/振动(正弦)：IEC 60068-2-53、GB/T 2423.35;

以上文章由环境可靠性检测机构

产品范围：

电子电器

测试项目：

a.环境老化试验：高温试验，低温试验，湿热试验，快速温变试验，温度冲击试验，温度循环试验

b.腐蚀试验：二氧化硫冷凝水试验，盐雾试验，气体腐蚀试验

c.光老化试验：氙灯老化试验，紫外老化试验，阳光模拟试验

d.外壳防护等级：淋雨试验，防尘试验，冰水冲击试验

e.动力环境类试验：振动试验，跌落试验，温度-湿度-振动三综合试验，机械冲击试验

随着电子类产品技术的不断更新，集成化程度越来越高，需对零部件的可靠性要求也越来越严格，要求各企业从源头上对材料质量和安全性做出监控。我司针对目前市场上的电子产品包括汽车类电子产品的测试项目利用设备来模拟环境条件，几乎涵盖了设备在使用环境中遇到的所有严苛条件，以*快的模拟试验来找到产品的不良点以及缺陷，给出可改进的*优方案。