电子设备自由跌落测试,如何检测电磁干扰

更新:2025-01-19 11:00 编号:18979757 发布IP:112.81.199.217 浏览:12次
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电子设备自由跌落测试,如何检测电磁干扰

一、什么是跌落试验

1、跌落测试,主要用来模拟未包装/包装的产品在搬运期间可能受到的自由跌落,考察产品抗意外冲击的能力。

具体来说,是将未包装/包装的产品的一角,三边,六面自由落体,角是任一角,三边对应短边,第二短边,长边,六面的顺序是小面积,第二小面,大面积

2.跌落试验的目的是确定产品在搬运,运输,存储以及使用的过程期间抵抗投掷,受压,跌落的适应性能,其中包括卡通箱,产品的包装方式是否完善和符合要求达到包装保护产品的目的或者是确定安全要求用的低牢固等级。

二、跌落试验的标准

参考标准如下:
GB/T 2423.8电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落
IEC60068-2-32电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落
GB/T4857.5包装 运输包装件 跌落试验方法


三、跌落测试试验的条件

跌落测试试验条件:试验表面,释放高度,释放方法,确定3个参数后可利用试验仪器,对产品进行的跌落测试

a、 包装从很高的高度跌落的概率非常小。

b、 多数包装从低高度处会摔落许多次,而相对较少的包装在较高高度处会摔落多次。

c、 与单包装相比,组合包装受到的跌落次数更少且高度更低。

d、 多数包装都是基于其更稳定方向运输,面跌落占跌落总数的一半以上。

e、 包装越重,跌落高度越低。

f、 包装越大,跌落高度越低。

g、 包装带提手可能降低跌落高度。

h、 带有提醒标签如易碎、小心轻放等可能会降低跌落次数,但作用不是很明显。


四、造成跌落失效的原因和降低损坏率的方法

1、跌落常造成的失效有外包装炸裂、漆膜破损、金属变形、塑料破裂、元器件脱焊等机械损伤,造成这些损伤的原因就是跌落冲击有冲击力大、作用时间短的特点。

2、降低跌落造成的损坏率更好的方法还是减少能量的传递,选择合适的缓冲材料。


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