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电子元器件识别及检测,电磁屏蔽测试

更新:2024-05-17 11:00 发布者IP:112.81.199.217 浏览:0次
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无锡万博检测科技有限公司商铺
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无锡万博检测科技有限公司
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人民币¥100.00元每件
关键词
电子元器件识别及检测,电磁屏蔽测试
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无锡市经开区太湖湾信息技术产业园16楼
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产品详细介绍

电子元器件识别及检测,电磁屏蔽测试

为什么大部分产品都要做湿热测试?/

 


在可靠性实验中,湿度一般施加在高温段,在对湿度诱发的故障机理分析的同时要考虑高温及后期的低温的综合作用。在机械特性方面,湿气侵入材料的表面进材料分解、长霉及形变等。

如果和高温同时作用,绝缘材料的吸湿加快,甚至会产生吸附、扩散及吸收现象和呼吸作用,使材料表面肿胀、变形、起泡、变粗,还会使活动部件摩擦增加甚至卡死;在电气方面,由于潮湿,在温度变化时容易产生凝霜现象,从而造成电气短路。

潮湿引起的有机材料的表面劣化也会导致电性能的劣化,同时在高温下潮湿还会导致接触部件的触点污染,使触点接触不良。

湿度诱发的主要故障模式有:1、电气短路;2、活动元器件卡死;3、电路板腐蚀;4、表层损坏;5、绝缘材料性能降低等。

另外,对于其它类型的环境应力和所能激发的故障类型也有一定的对应关系。在产品可靠性试验中施加综合应力比施加单一应力更能有效地加法产品的缺陷,因为某一环境因素对产品的影响会随着另一种环境因素诱发得到加强并导致失效。

这就要求,在对具体产品进行RET时,必须深入分析各类型应力对产品各类型缺陷作用的机理,确定RET中各种应力的综合方式。

执行与满足标准

GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件;

GB/T 10589-2008低温试验箱技术条件;

GB/T 10592-2008高低温试验箱技术条件;

GB/T 10586-2006湿热试验箱技术条件;

GB/T 5170.1-1995电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 总则

GB/T 5170.2-1996电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 温度试验设备

GB/T 5170.5-1996电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 湿热试验设备

GB/T 5170.18-1996电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 温度/湿度组合循环试验设备

GB/T 2421-1999电工电子产品环境试验 第1部分:总则

GB/T 2422-1995电工电子产品环境试验 术语

GB/T 2423.1-2001电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温

(idt IEC60068-2-1:1990);

GB/T 2423.2-2001电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温

(idt IEC60068-2-2:1974);

GB/T 2423.3-2006电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验(IEC60068-2-78:2001,IDT);

GB/T2423.34-2005电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验。(idt IEC60068-2-38:1974);

GB/T 2423.4-1993电工电子产品基本环境试验规程 试验Db:交变湿热试验方法(eqv IEC60068-2-30:1980);

GB/T 2423.9-1989电工电子产品基本环境试验规程 试验Cb:设备用恒定湿热试验方法

GB/T2424.1-2005电工电子产品环境试验 高温低温试验导则 (idt IEC60068-3-1:1974);

GB/T2424.2-2005电工电子产品环境试验 湿热试验导则 (idt IEC60068-3-4:2001);

GB/T2424.5-2006电工电子产品环境试验 温度试验箱性能确认 (idt IEC60068-3-5:2001);

GB/T2424.6-2006电工电子产品环境试验 温度/湿度试验箱性能确认 (idt IEC60068-3-6:2001);

GB/T2424.7-2006电工电子产品环境试验 试验A和B(带负载)用温度试验箱的测量

(idt IEC60068-3-7:2001);

GJB150-1-86军用设备环境试验方法 总则

GJB150-3-86军用设备环境试验方法 高温试验

GJB150-4-86军用设备环境试验方法 低温试验

GJB150-9-86军用设备环境试验方法 湿热试验



所属分类:中国商务服务网 / 检测认证
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