电子设备自由跌落试验，电磁辐射怎么检测

电子设备自由跌落试验，电磁辐射怎么检测

跌落测试，一般是指产品包装好后(在外箱里)，在一定的高度做自由落体跌落，很后看有没有损坏。主要适用于测试产品包装后，受到堕落时受损情况，评估部件在搬运过程中，遭受落下时其耐冲击强度。包装容器之菱、角、面均需测试。

　　具体来说，是将箱子的一角，三边，六面摔10次，顺序是任一角,角对应很短边,第二短边,很长边,六面的顺序是很小面积,第二小面,很大面积也就是从小到大。所有装在卡通箱内运输的产品做1箱，但易碎产品(如产品由玻璃、陶瓷制成或含玻璃、陶瓷材料)或者大型家具(如桌子、椅子和床)除外。对大多数产品而言，落地测试FAIL不必使出货REJECT，但可以让Homebase了解产品在搬运过程中可能遭受的损失。对于电器产品(带插头的电源)，如果落地测试后带电部件裸露在外，判为CRITICAL。对于大型家具，如有可能，落地测试时垂直放置产品，推倒一次。

　　通常是主要用来模拟未包装/包装的产品在搬运期间可能受到的自由跌落，考察产品抗意外冲击的能力。

　　通常跌落高度大都根据产品重量以及可能掉落机率作为参考标准，落下表面应该是混凝土或钢制成的平滑、坚硬的刚性表面（如有特殊要求应以产品规格或客户测试规范来决定）。

　　对于不同国际规范产品在相同重量下但掉落高度也不相同，对于手持型产品(如手机,MP3等)大多数掉落高度大都介于100cm~150cm不等，IEC对于≦2kg之手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏，MIL则

　　建议掉落高度为122cm，Intel对手持型产品(如手机）则建议落下高度为150cm。试验的严苛程度取决于跌落高度、跌落次数、跌落方向。

　　参考的测试标准：GB/T2423.8，ISTA，IEC60068-2-32，GB-T4857.5等