亚克力透光率检测，红外光谱测试方法
半导体晶圆表面形貌的测量可以直接反映晶圆的质量和性能。通过对晶圆表面形貌的测量，可以及时发现晶圆制造中的问题，比如晶圆的形貌和关键尺寸测量如表面粗糙度、台阶高度、应力及线宽测量等，这些因素都会直接影响晶圆制造和电子元器件的质量。以下是几种晶圆表面形貌及台阶高度的测量方法：
光学3D表面轮廓仪SuperViewW系列光学3D表面轮廓仪以白光干涉扫描技术为基础研制而成，以光学非接触的扫描方式对样品表面微观形貌进行检测。其轮廓尺寸测量功能支持纳米级别的台阶高和微米级别的平面尺寸测量，包含角度、曲率等参数；可用于半导体减薄片、镀膜片晶圆IC的粗糙度、微观轮廓测量。
| 成立日期 | 2023年09月26日 | ||
| 法定代表人 | 周修芳 | ||
| 注册资本 | 1000 | ||
| 主营产品 | 国军标测试、gjb150可靠性检测、检测环境可靠性测试、汽车电子产品检测 | ||
| 经营范围 | 汽车零部件电子产品检测技术服务 | ||
| 公司简介 | 万博检测从事第三方公正检测、咨询服务。公司拥有的检测技术团队与经验丰富高素质的实验室管理人员。万博检测已建设成为一个集环境可靠性试验、材料性能测试、电磁兼容（EMC）、安规测试、化学分析、理化检测为一体的大型综合性检测服务机构。服务能力覆盖军用/民用、电子电器、汽车、材料、航空航天、通用设备、船舶、机械、医疗器械、纺织玩具、橡胶塑料、运输包装等应用领域，现有规模、测试能力和水平处于行内检测机构的高 ... | ||
