手机可靠性检测，连接器可靠性测试项目

手机可靠性检测，连接器可靠性测试项目

 温度冲击测试(Thermal Shock)

　　测试环境：低温箱：-30° C ;高温箱：+10° C

　　测试目的：通过高低温冲击进行样品应力筛选

　　试验方法：使用高低温冲击箱，手机带电池，设置成关机状态先放置于高温箱内持续45分钟后，在15秒内迅速移入低温箱并持续45分钟后，再15秒内迅速回到高温箱。此为一个循环，共循环21次。实验结束后将样机从温度冲击箱(高温箱)中取出，恢复2小时后进行外观、机械和电性能检查。对于翻盖手机，应将一半样品打开翻盖;对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。

　　试验标准：手机表面喷涂无异变，结构无异常，功能正常，可正常拨打电话。

　　1.1.3 跌落试验(Drop Test)

　　测试条件：1.5m高度，20mm厚大理石地板。(对于PDA手机,根据所属公司质量部门的建议可调整为跌落高度为1.3m)

　　测试目的： 跌落冲击试验

　　试验方法：将手机处于开机状态进行跌落。对于直握手机，进行6个面的自由跌落实验，每个面的跌落次数为1次，每个面跌落之后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机，进行8个面的自由跌落实验;其中一半样品合上翻盖按直握手机的方法进行跌落，另一半样品在跌正面和背面时须打开翻盖;对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。跌落结束后对外观、结构和功能进行检查。

　　试验标准：手机外观，结构和功能符合要求。

　　1.1.4 振动试验(Vibration Test)

　　测试条件：振幅：0.38mm/振频：10~30Hz;振幅：0.19mm/振频：30~55Hz;

　　测试目的： 测试样机抗振性能

　　试验方法：将手机开机放入振动箱内固定夹紧。启动振动台按X、Y、Z三个轴向分别振动1个小时，每个轴振完之后取出进行外观、结构和功能检查。三个轴向振动试验结束后，对样机进行参数测试。