电子产品可靠性检测，老化可靠性测试
低气压试验 | 低气压试验箱主要用于航空、航天、信息、电子等领域，确定仪器仪表、电工产品、材料、零部件、设备在低气压、高温、低温单项或作用下的环境适应性与可靠性试验。 | 测试范围：压力:常压~10KPa |
臭氧测试 | 臭氧测试适用于适用于测试橡胶制品非金属材料、有机材料（如：涂料、油漆、橡胶、塑胶、及其制品）的耐臭氧老化性能和老化龟裂试验。 | 测试范围：浓度: 0~500pphm |
高压蒸煮（HAST） | 高压蒸煮试验采用高压高湿条件，考核塑料封装的半导体集成电路等电子器件的综合影响，是用高加速的试验方式评价电子产品耐湿热的能力，常用于产品开发、质量评估、失效验证。 | 测试范围：温度：105~142.9℃ |
氙灯老化/太阳辐射 | 用模拟全阳光光谱的氙弧灯来再现不同环境下存在的破坏性光波，可以为科研、产品开发和质量控制提供相应的环境模拟和加速试验。 | 测试范围：黑板温度范围为25℃~90℃ |
