汽车电子可靠性试验，电子连接器检测

汽车电子可靠性试验，电子连接器检测

开关同步噪音也是RAM高速并行接口可能出现的我们所不期望的一种物理现象。当IC的驱动器开关时，会产生瞬间变化的大电流，在经过回流途径上存在的电感时，形成交流压降，从而产生噪音噪声（称为SSN），它可能影响信号接收端的信号电平判决。这是并行总线非常恶劣的一种工作状态，对信号驱动器的高速信号转变能力、驱动能力、电源的动态响应、电源的滤波设计构成了严峻的考验。为了验证产品在这种的工作条件下工作是否可靠，必须被测设备（DUT）加上一种特殊的测试负荷，即特殊的测试报文。

举例：如果被测总线为16位宽，要使所有16跟信号线同步翻转，报文内容应该为：

FFFF 0000 FFFF 0000

如果被测总线为32位宽，要使所有32跟信号线同步翻转，测试报文内容应该为：

FFFF FFFF 0000 0000 FFFF FFFF 0000 0000

如果被测总线为64位宽，要使所有64根信号线同步翻转，测试报文内容应该为：

FFFF FFFF FFFF FFFF 0000 0000 0000 0000 FFFF FFFF FFFF FFFF 00000000 0000 0000

如果报文在DUT内部的业务通道存在上述位宽的总线，业务测试必须加载上述的报文，看DUTUUT在每种报文下工作是否正常，在相应总线上进行信号测试，看信号是否正常。