弹簧可靠性试验，标准件盐雾试验

可靠性测试就是为了评估产品在规定的寿命期间内，在预期的使用、运输或储存等所有环境下，保持功能可靠性而进行的活动。是将产品暴露在自然的或人工的环境条件下经受其作用，以评价产品在实际使用、运输和储存的环境条件下的性能，并分析研究环境因素的影响程度及其作用机理。通过使用各种环境试验设备模拟气候环境中的高温、低温、高温高湿以及温度变化等情况，加速反应产品在使用环境中的状况，来验证其是否达到在研发、设计、制造中预期的质量目标，从而对产品整体进行评估，以确定产品可靠性寿命。

北京半导体实验室

可靠性测试

➢ HTOL：高温寿命试验（ High Temperature Operating Life ），也叫老化（burnin）

➢LTOL为低温寿命试验，基本与HTOL一样，只是炉温是低温，一般用来寻找热载流子引起的失效，或用来试验存储器件或亚微米尺寸的器件

➢ EFR/ELFR:早期失效寿命试验（ Early Failure Rate / Early Life FailureRate）

➢ BLT偏压寿命试验（Bias Life Test）➢ BLT-LTST低温偏压寿命试验（Bias Life Test-LowTemperature Storage Test）

➢ HTGB高温栅极偏压试验 (High Temperature Gate Bias) ，

HTRB-高温反向偏压试验(High Temperature Reverse Bias)