半导体晶圆检测,电表老化测试

更新:2025-01-19 11:00 编号:21727895 发布IP:112.81.199.246 浏览:15次
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半导体晶圆检测,电表老化测试

J形引脚小尺寸封装SOJ

J形引脚小尺寸封装SOJ

引脚从封装主体两侧引出向下呈J字形,直接粘着在印刷电路板的表面,通常为塑料制品,多数用于DRAM和SRAM等内存LSI电路,但绝大部分是DRAM。用SOJ封装的DRAM器件很多都装配在SIMM上。引脚中心距1.27mm,引脚数从20至40不等。

四边引脚扁平封装QFP

QFP是由SOP发展而来,其外形呈扁平状,引脚从四个侧面引出,呈海鸥翼(L)型,鸟翼形引脚端子的一端由封装本体引出,而另一端沿四边布置在同一平面上。它在印刷电路板(PWB)上不是靠引脚插入PWB的通孔中,不必在主板上打孔,而是采用SMT方式即通过焊料等贴附在PWB上,一般在主板表面上有设计好的相应管脚的焊点,将封装各脚对准相应的焊点,即可实现与主板的焊接。PWB两面可以形成不同的电路,采用整体回流焊等方式可使两面上搭载的全部元器件一次键合完成,便于自动化操作,实装的可靠性也有保证。这是目前普遍采用的封装形式。

此种封装引脚之间距离很小、管脚很细,一般大规模或超大规模集成电路采用这种封装形式。其引脚数一般从几十到几百,其封装外形尺寸较小、寄生参数减小、适合高频应用。该封装主要适合用SMT表面安装技术在PCB上安装布线。由于QFP的引线端子在四周布置,且伸出PKG之外,若引线间距过窄,引线过细,则端子难免在制造及实装过程中发生变形。当端子数超过几百个,端子间距等于或小于0.3mm时,要**地搭载在电路图形上,并与其他电路组件一起采用再流焊一次完成实装,难度极大,致使价格剧增,还存在可靠性及成品率方面的问题。采用J字型引线端子的PLCC等可以缓解一些矛盾,但不能从根本上解决QFP的上述问题。由QFP衍生出来的封装形式还有LCCC、PLCC以及TAB等。

此封装的基材有陶瓷、金属和塑料三种。从数量上看,塑料封装占绝大部分,当没有特别表示出材料时,多数情况为塑料QFP。塑料QFP是普及的多引脚LSI封装。QFP封装的缺点是:当引脚中心距小于0.65mm时,引脚容易弯曲。为了防止引脚变形,现已出现了几种改进的QFP品种。


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