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晶振功能失效分析,铸铝件盐雾试验

更新:2024-05-16 11:00 发布者IP:112.81.163.47 浏览:0次
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晶振功能失效分析,铸铝件盐雾试验
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晶振功能失效分析,铸铝件盐雾试验

电阻失效发生的机理是多方面的,环境或工作条件若发生变化都有可能造成电阻的失效。其中,因外部水汽或其它腐蚀性气体等造成电阻膜腐蚀,进而导致电阻开路或阻值变大的失效情景时有发生。本文依据此,进行案例分享。


案例分享

1.贴片电阻因电阻膜腐蚀失效案例


贴片电阻(SMD Resistor)又名片式固定电阻器(Chip Fixed Resistor),是金属玻璃釉电阻器中的一种。

以下是贴片电阻中因电阻膜腐蚀造成的不良解析过程:

阻值测试


不良品电阻阻值



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