电子元件可靠性测试，镀铬盐雾测试标准

电子元件可靠性测试，镀铬盐雾测试标准

环境应力筛选的无故障检验试验

1. 1. 1 试验目的与判据

前已说明， 在GJB 1032《电子产品环境应力筛选方法》 中规定， 在环境应力筛选的后期程序

中要安排无故障检验试验。 其目的是验证筛选的有效性。 其方法是先进行80小时的温度循环， 后进

行*长15分钟的随机振动， 所用应力参数与前面缺陷剔除程序的相同。

无故障检验试验的判据是： 在80小时温度循环中如果有连续40小时无故障、 在*长15分钟随机

振动中如果有连续5分钟无故障， 就认为产品通过了环境应力筛选， 否则要继续进行缺陷剔除筛

选， 之后再进行无故障检验试验。

1. 1. 2 无故障检验试验的概念与发展

无故障检验试验作为环境应力筛选效果的验证试验， 要验证产品是否达到了筛选方案中预期要

剔除的缺陷百分值， 也是衡量产品是否已经消除早期失效并进入随机失效期。 随机失效期的失效率

正是装备可靠性水平的标志。 无故障验证试验的*终目的是验证产品是否达到了设计的可靠

性要求值。 如果无故障检验试验通过了， 我们就有理由认为产品达到了定量环境应力筛选方案所预

期的要消除缺陷的高百分值（例如98％） ， 也就是说产品以该百分值的置信水平达到了可靠性设计

值。 从这个含义出发， 我们可以用这种试验来证明产品是否实现了设计的MTBF值， 其置信概率可与

环境应力筛选方案要求的相同。 这就是由环境应力筛选发展而来的可靠性保证试验的出发点。

1. 2 可靠性保证试验的性质与用途

1. 2. 1 可靠性保证试验的性质

可靠性保证试验以无失效的试验时间来验证设备的MTBF值， 是环境应力筛选工作的外延和发

展， 其性质仍属工程试验的范畴。

1. 2. 2 可靠性保证试验的应用

如前所述， 通过MTBF保证试验的产品， 被认为消除了高百分比的缺陷型早期失效和达到了设计

的MTBF值。 可靠性保证试验可用于推断产品的MTBF值。 可为承制单位评估产品的MTBF值提供工

程依据。

2 试验参数的确定

2. 1 试验参数的定义

在制定可靠性保证试验方案时， 必须使用以下参数， 各自的定义为：

 =设备通过无缺陷失效试验的概率；

T(r) ＝MTBF保证试验时间；

T(W) ＝**试验时间；

M＝设备的MTBF设计值。

2. 2 试验时间的确定

可靠性保证试验的试验时间与上述参数有关， 由以下关系式计算求解。

     



[( ) ( ( ) ( )] /

( ) [ ( ) ]

M M T W T r M

T r T r

1

1

(5-2-1)

式中： T W T r ( ) / ( ) 值需要综合考虑， 其原则是：

当 T W T r ( ) / ( ) ＜2 时， 通过试验的概率  下降较多； 当 T W T r ( ) / ( )＞2时， 试验时间将加

长， 耗费较大； 选取 T W T r ( ) / ( ) =2是**的。

保证试验时间 T r ( ) 求解过程如下：

将 T W T r ( ) / ( ) =2， 即 T W T r ( ) ( )  2 代入上式，并令产品通过无缺陷失效试验概率  =0. 98

（高概率） ， 可解得：

T r ( ) =0. 212 M (5-2-2)

由此可知， 可靠性保证试验所需的时间是很少的。