透光测试，高频阻抗测试

透光测试，高频阻抗测试

热重分析仪通过加热坩埚内样品，使其质量随温度的变化而发生变化，再通过力传感器传递成光电传感器，使吸引线圈中的电流产生变化，也就是说将初的质量变化转成了电流的变化，并且二者成正比例关系。

　　图中T是由插在参比物的热电偶所反映的温度曲线。AH线反应试样与参比物间的温差曲线。如试样无热效应发生，那试样与参比物间△T=0，在曲线上AB、DE、GH是平滑的基线。当有热效应发生而使试样的温度低于参比物，则出现如BCD顶峰向下的吸热峰。则出现顶峰向上的EFG放热峰。