透光率雾度测定，x射线探伤第三方检测
AFM的高度像可用于样品表面微区高分辨的粗糙度测量，应用合适的数据分析软件能得到测定区域内粗糙度各表征参数的统计结果，一般仪器供应商会提供配套的数据处理软件。表面粗糙度的定量常用美国机械工程协会的ASMEB46.1粗糙度分析标准。表面平均粗糙度Ra，大高度粗糙度Rmax和均方根粗糙度Rq等是常用的表征粗糙度的参数，其含义分别是：在所考察区域内相对中央平面测的高度偏差值的算术平均值（Ra），在横截面轮廓曲线图中在轮廓长度范围内相对中心线高点与低点高度的差值（Rmax），Rq是指在取样长度内，轮廓偏离平均线的均方根值，它是对应于Ra的均方根参数。计算机根据高度数据能自动计算出轮廓算术平均偏差Ra，大高度粗糙度Rmax和均方根粗糙度Rq。
