光学检测报告，线膨胀系数测定方法
低膨胀性能的树脂体系，向EP中掺杂经硅烷偶 联剂处理过的纳米二氧化硅制成复合体系，测试其低温线膨胀系数并与纯EP进行比较；
结合DMA测试数据和分子模拟的结论分析了n-SiO2降低线膨胀系数的机制，对纯EP和n-SiO2/EP进行了正电子湮灭测试以获取它们的自由体积分数相对大小。
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1. EP低温线膨胀系数测试
在分子模拟的基础上，我们制备了E-51和TDE-85两种环氧树脂并进行了低温线膨胀系数(α)测试。
为了表现出环氧树脂低温热膨胀性能的共同特性，我们制备了多个样品并且分别测试了它们的α值，结果取平均值绘制曲线；
E-51和TDE-85两种环氧树脂的α-T关系曲线图，为了对分子动力学模拟结果进行验证，将预测的各温度区间平均线膨胀系数标注于图中以作对比。
