中成药成分分析，化学成分分析检测中心
XRF | B-U 范围元素定性定量分析，适合分析无机材料。 | 1.采集深度：1-3µm 2.采集信息：B-U (WDXRF); Na-U (EDXRF) 3.检测限：大多数元素 1 ppm-100 ppm |
AES | 适合分析无机材料，元素的定性半定量分析以及部分化学态分析，可以进行 深度剖析。 分析固体材料表面纳米深度的元素（部分化学态）组成，可以对纳米级形貌 进行观察和成分表征。既可以分析原材料（粉末颗粒，片材等）均匀表面组 成，又可以分析材料特定微区结构或特定产品表面缺陷如污染，腐蚀，掺杂， 吸附、晶界杂质偏析等，还具备深度剖析功能表征钝化层，掺杂深度，纳米 级多层膜层结构等。 | 1.空间分辨率：8nm 2.采集深度：0.5-7.5nm 3.成分检出限：0.1atom% 4.采集信息：元素 Li-U，部分化学态 |
GD-MS | 进行高纯材料（金属，合金，石墨，电子材料，氧化物和陶瓷等）的全元素 含量测试。 | 1.一次性提供从 Li-U（C，N，O，H 除外） 的所有元素含量 2.检测限：ppb~ppm 级 |
