直流阻抗测试，导热系数的测量

直流阻抗测试，导热系数的测量

多种因素影响着TDR系统分辨间隔紧密的不连续点的能力，如果TDR系统的解析度不足，间隔小或间隔紧密的不连续点可以平滑成波形中的一个畸变，这种效应不仅会隐藏某些不连续性，还可能会导致阻抗读数不准确。TDR测量时发出的阶跃脉衝的上升时间是影响TDR解析度的Zui关键因素。

TDR规范在第22 页“ 4.1.1” 提出对TDR仪器的要求 ：

TDR instrumentation that contains a pulse(step)generator and anoscilloscope with the following features isrequired:

35 ps maximum reflected into the open instrumentport.

Step aberrations:

Less than 3% from 10ns to 35ps before step……

Mainframe oscilloscope bandwidth of at least 10Ghz

在许多情况下，大家希望Zui快的上升时间，这样能够提供更好的解析度，但在某些情况下，极快的上升时间在TDR测量中也会给出误导性结果。为了与实际讯号保持一致，很多规范要求，阻抗测量时TDR的上升时间与实际讯 号保持一致，如USB2.0 要求400ps 的TDR 上升时间，Infiniban要求200ps的TDR上升时间等，TDS8000B+80E04 TDR 採用了Intel PCB 测试方法上推