焊缝探伤分析,金精矿检测
嵌入Zui终块状复合材料中的碳纳米材料可以通过用合适的酸蚀刻基质材料在SEM图像中进行检查,因为碳纳米材料和金属基质之间的界面比基质具有更高的能量。所以它将比基质更快地被蚀刻,以揭示纳米材料的潜在位置。俄歇电子能谱可以与SEM分析一起进行。
AES元素图显示了富碳相在Al/CNT复合材料中的分布,该第二相的体积分数可以使用图像分析软件来确定。与能量色散X射线光谱绘图相比,AES被认为更适合于分析碳纳米材料的分布。由于俄歇电子的平均自由程相对较短,与X射线相比只有几个纳米,因此AES能够进行纳米级的成分分析。