型钢原材检测，金相法检测镀层厚度
X射线光谱法(ASTM B568)
X射 线 荧 光 ( X-rayfluorescence，XRF)是指高强度入射X射线撞击置于入射光束路径上的材料时产生的二次辐射，因为这种二次发射具有该材料的波长和能量特征，X射线光谱法测量镀层厚度的机理就是基于镀层单位面积质量(若密度已知，则为镀层线性厚度)和二次辐射强度之间存在一定的关系，对于任何实际的仪器系统，该关系由已知单位面积质量的镀层校正标准块校正确定，若镀层材料的密度已知，又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出镀层的线性厚度。这种测量方式具备无损检测的优点，其测量范围是铬镀层:0.03~3.8μm,镍镀层: 1.3~30.5μm，图1中的铬层厚度就是该法测量的结果。
3电化学法( ASTM B504)电化学法又叫库仑法或阳极溶解法，其原理是:用适当的电解液阳极溶解jingque限定面积的镀层。通过电解池电压的变化测定镀层的完全溶解，镀层的厚度通过电解所耗的电量(以库仑计)来计算。
