电子产品高压测试标准，高低温冲击试验

电子产品高压测试标准，高低温冲击试验

在DC耐压测试时，为何需要缓升时间？

DC耐压测试通常会需要加上缓升时间以及放电时间，因为大多的DUT具有电容性而会导致充电电流产生。为了使充电变位电流(chargecurrent)稳定，需要缓升时间来缓冲，才不会因充电电流而导致漏电流过高，进而判断为不良品(FAIL)。

5 、在做耐压测试时，为何需要缓降时间？

耐压测试会使DUT充电，在耐压测试结束时须一段时间来进行放电，优良的耐压测试设备会将放电时间减至少，并且在未达放电标准前会明显标示危险警告，以防止测试人员不当接触而受到电气伤害。

6 、何谓flashover 电气闪络(ARC)?

安规标准中明显指出不得有绝缘破坏(Breakdown)发生，而部份安规标准更要求不得有电气闪络(Flashover/ARC发生，但并无测试标准。ARC是属於电气放电的一种，当ARC发生时已表示绝缘能力已不足，若多次的ARC发生，则会导致绝缘破坏。

7 、为何需要做电压补偿?

在耐压测试中，测试电压的标准是判断良品的主要因素之一。许多耐压测试设备以变压器将低电压转换为高电压後输出，但仪器的内部阻抗会造成分压，尤其在一些品质不良的耐压测试设备中，实际输出电压无法达到安规标准。为避免失误判定为良品而造成不必要的困扰，优良的耐压测试设备会以自动增益补偿(AutoGainCompensation)修正与补偿电压至所须电压值，并将电压表设计於输出端，以便正确量测输出电压是否不足。