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电子产品高压测试标准,高低温冲击试验

更新:2024-05-16 11:00 发布者IP:36.161.157.252 浏览:0次
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电子产品高压测试标准,高低温冲击试验
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产品详细介绍

电子产品高压测试标准,高低温冲击试验

在DC耐压测试时,为何需要缓升时间?

DC耐压测试通常会需要加上缓升时间以及放电时间,因为大多的DUT具有电容性而会导致充电电流产生。为了使充电变位电流(chargecurrent)稳定,需要缓升时间来缓冲,才不会因充电电流而导致漏电流过高,进而判断为不良品(FAIL)。

5 、在做耐压测试时,为何需要缓降时间?

耐压测试会使DUT充电,因此在耐压测试结束时须一段时间来进行放电,优良的耐压测试设备会将放电时间减至少,并且在未达放电标准前会明显标示危险警告,以防止测试人员不当接触而受到电气伤害。

6 、何谓flashover 电气闪络(ARC)?

安规标准中明显指出不得有绝缘破坏(Breakdown)发生,而部份安规标准更要求不得有电气闪络(Flashover/ARC发生,但并无测试标准。ARC是属於电气放电的一种,当ARC发生时已表示绝缘能力已不足,若多次的ARC发生,则会导致绝缘破坏。

7 、为何需要做电压补偿?

在耐压测试中,测试电压的标准是判断良品的主要因素之一。许多耐压测试设备以变压器将低电压转换为高电压後输出,但仪器的内部阻抗会造成分压,尤其在一些品质不良的耐压测试设备中,实际输出电压无法达到安规标准。为避免失误判定为良品而造成不必要的困扰,优良的耐压测试设备会以自动增益补偿(AutoGainCompensation)修正与补偿电压至所须电压值,并将电压表设计於输出端,以便正确量测输出电压是否不足。


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