五金可靠性测试,螺丝盐雾测试浓度
可靠性测试
以下是TI针对其产品可靠性进行的各种类型测试的信息:
加速测试
大多数半导体器件的正常使用寿命延长多年。我们不能等待几年才能研究一种设备;我们必须增加施加的压力。应用压力增强或加速潜在故障机制,帮助识别根本原因,并帮助TI采取措施防止故障模式。
在半导体器件中,一些常见的促进剂是温度,湿度,电压和电流。在大多数情况下,加速测试不会改变失败的物理过程,但它确实会改变观察的时间。加速和使用状态之间的转变被称为“降额”。
高度加速的测试是基于JEDEC的鉴定测试的关键部分。以下测试反映了基于JEDEC规范JESD47的高度加速条件。如果产品通过了这些测试,则该设备在大多数使用情况下都可以接受。
资格考试 | JEDEC参考 | 应用压力/促进剂 |
---|---|---|
HTOL | JESD22-A108 | 温度和电压 |
温度循环 | JESD22-A104 | 温度和温度变化率 |
温度湿度偏差 | JESD22-A110 | 温度,电压和湿度 |
uHAST | JESD22-A118 | 温度和湿度 |
储存烘烤 | JESD22-A103 | 温度 |