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半导体测试iv曲线,变频器老化测试

更新:2024-04-29 11:00 发布者IP:112.81.199.246 浏览:0次
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半导体测试iv曲线,变频器老化测试
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产品详细介绍

半导体测试iv曲线,变频器老化测试

为什么要做OS测试?


OS毕竟是一个测试项,摆在测试顺序(sequence)的哪个位置都行,但产品的价格,与测试成本是挂钩的,也就是说越早的排查出有问题芯片,测试的时间越短,测试成本越低。OS是基础的项目,它能很直接的测出芯片结构的完整性,所以一般会放在前面测。


另外说一句,电源脚(power pin)没法这样测哦~


以上,就是份的所有内容啦,划重点~CMOS结构


PS:回答一些上次的问题,抱歉这么久没有来CSDN,这半年过的有点艰难,望理解。


1、学习路子?


这个嘛,没啥太好的路子,基本上都是进公司之后看测试原理,跟着做项目;在这之前得打好电路原理基础。


2、怎么从软件实现测试?


测试的根本,是不同的电压、电流及引脚状态,软件层次的手段终都会落实在这上面。主机上的程序,去控制测试机对应的通道输入、输出、比较,这样就能完成测试。


3、补偿是干什么的?对芯片有影响吗?


大部分补偿是为了提高芯片精度,比如芯片频率校准,温度基数校准。补偿值写在芯片的寄存器中,各家的芯片有他们自己的运行逻辑,补偿机制也不相同。补偿对芯片理论上没影响,除非数据存写的时候是OTP方式,这种情况下,烧错数据就GG咯。

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