高分子粘度的测试，扫描电镜测试价格

扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。

一、扫描电镜测试的优点

①有较高的放大倍数，20-20万倍之间连续可调；分辨率高，表面扫描二次电子成像的分辨率已经达到100埃;

②有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；

③试样制备简单，样品的电子损伤小。

④可进行显微形貌观察和微区成分分析。目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置，这样可以进行显微组织形貌的观察和微区成分分析

SEM在高分子材料学，生物学，医学，冶金学等等学科领域中发挥了重要的作用，它是当今十分有用的科学研究仪器。

二、扫描电镜测试原理：

用电子束在样品上扫描，入射电子撞击样品表面原子的外层电子，把它激发出来，就形成二次电子，二次电子被探测器接收，通过信号处理并调制显示器上一个像素发光，（由于电子束斑直径是纳米级别，而显示器的像素是100微米以上，这个100微米以上像素所发出的光，就代表样品上被电子束激发的区域所发出的光。）实现样品上这个物点的放大，便实现这个样品区域微观形貌的放大成像。二次电子的强度主要与样品表面形貌有关。