耳机失效分析,电路板盐雾试验

更新:2024-05-21 11:00 发布者IP:112.81.163.47 浏览:0次
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耳机失效分析,电路板盐雾试验
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耳机失效分析,电路板盐雾试验

不良解析



1. 通过对样品电阻的一系列分析验证,可以判断电路回路、异物(污染)、Ag迁移等因素不是导致电阻阻值降低的原因;




2.通过对样品电阻的分析,可以判断电阻存在明显缺陷如下:


①电阻表面保护层存在粗糙、孔洞等缺陷;


②电阻调阻槽内存在电阻膜残余金属Pb;








3.通过对电阻应用环境与电阻规格要求的比对,电阻运行时的实际温度可能比较高,电阻额定温度为70℃,超出该温度,会导致其负载能力降低,阻值偏差增大。




失效机理



要因1:电阻保护层存在孔洞、粗糙等异常现象,为水汽进入电阻内部提供了通道,电阻调阻槽内部存在明显的电阻膜残余金属。




要因2:电阻在高温高湿条件下运行,水汽会侵入电阻保护层,到达调阻槽。调阻槽残余的电阻膜金属和水汽结合,在一定的电流作用下,会使调阻槽之间的漏电流不断增加,终导致电阻值降低。




要因3:电阻的应用环境可能超限。电阻额定温度为70℃,实际应用环境可能超出该温度,继而导致其负载能力降低,阻值偏差增大。


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