器件失效分析,乙酸盐雾测试

2024-11-28 11:00 112.81.163.47 1次
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器件失效分析,乙酸盐雾测试
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器件失效分析,乙酸盐雾测试

温度变化对电阻的影响
对于电阻温度变化的影响主要是在温度升高的时候。温度升高会引起电阻热噪声增加、阻值偏离标称值、允许耗散概率下降等现象。打比方说,RXT系列的碳膜电阻在温度升高到100℃时,允许的耗散概率仅为标称值的20%。
电阻的这一特性并不是只有坏处。比如,经过特殊设计的电阻:PTC(正温度系数热敏电阻)和NTC(负温度系数热敏电阻),它们的阻值受温度的影响很大,可以作为传感器。对于PTC,当其温度升高到某一阈值时,其电阻值会急剧增大。
利用这一特性,可将其用在电路板的过流保护电路中 ——当由于某种故障造成通过它的电流增加到其阈值电流后,PTC的温度急剧升高,其电阻值变大,限制通过它的电流,达到对电路的保护。而故障排除后,通过它的电流减小,PTC的温度恢复正常,其电阻值也恢复到其正常值。对于NTC,它的特点是其电阻值随温度的升高而减小。

温度变化对电容的影响
温度变化将引起电容的到介质损耗变化,从而影响其使用寿命。温度每升高10℃时,电容器的寿命就降低50%,还引起阻容时间常数变化,甚至发生因介质损耗过大而热击穿的情况。


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