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半导体材料研究和器件测试通常要测量样本的电阻率和霍尔电压。半导体材料的电阻率主要取决于体掺杂，在器件中，电阻率会影响电容、串联电阻和阈值电压。霍尔电压测量用来推导半导体类型(n还是p)、自由载流子密度和迁移率。为确定半导体范德堡法电阻率和霍尔电压，进行电气测量时需要一个电流源和一个电压表。为自动进行测量，一般会使用一个可编程开关，把电流源和电压表切换到样本的所有侧。A-SCS参数分析仪拥有4个源测量单元(SMUs)和4个前置放大器(用于高电阻测量)，可以自动进行这些测量，而不需可编程开关。与联合电子设备工程委员会(JEDEC)的测试PCB不同的是，EVM能够更确切地体现实际设计问题。而采用与3ATPS82130、2ATPS82140和1ATPS82150脚位兼容和脚位相同的设计方式则可以发挥更好的降额性能，从而减少电源设计人员所面临的难题。即便在输出达到5V时，TPS82140也可以在65°C的温和温度下安全地提供完整的2A电流。所示，低电流TPS82150在高达95°C的温度下仍能供应完整的1A电流。
无锡电子三极管回收