电子产品温升测试方法,交变湿热试验标准
为保证电子设备温度可靠运行,一般需要对电子设备内部的关键元器件进行温升测试,以确保关键元器件的温度不超过其允许的*高工作温度。但是不同的测试工况会得出不同的测试结果,现对比不同工况下的测试数据。
工况一:常温下测试:
在办公室环境,无风的条件下测试。
温度稳定后,温度值如下
温度点
环境温度
样品内部温度1
样品内部温度2
测量温度
23℃
56℃
55℃
温升
33℃
32℃
注:在办公室测试时,需要避免空调风对电子设备的影响。
工况二:恒温箱设置45℃,样品三周密闭
恒温箱内部是有风扇,恒温箱启动时,风扇转动,强制将恒温箱内部温度保持在设置的温度。样品用纸箱进行简单隔离,减小恒温箱内部风扇的风对样品的影响。
温度稳定后,温度值如下
温度点
环境温度
样品内部温度1
样品内部温度2
测量温度
46℃
68℃
67℃
温升
22℃
21℃
工况三:恒温箱设置45℃,样品四周密闭
将样品装在纸箱里,避免了恒温箱风扇的风对样品的影响。
温度稳定后,温度值如下
温度点
环境温度
样品内部温度1
样品内部温度2
测量温度
45℃
78℃
76℃
温升
33℃
31℃
工况四:恒温箱45℃运行一小时后,关闭恒温箱,样品无密闭处理
恒温箱运行一小时后,恒温箱内部温度能够稳定在设置的45℃;关闭恒温箱的电源,恒温箱内部风扇停止转动,这样可以制造一个45℃的无风环境。
温度稳定后,温度值如下
温度点
环境温度
样品内部温度1
样品内部温度2
测量温度
41℃
74℃
73℃
温升
33℃
32℃
总结:
1,同样无风的条件下,常温23℃和温箱41℃下的温升值是一致的,以后测试可以使用等效法;
2,温升测试第一步需要识别:设备的工作环境是否有强制风冷;
————————————————
版权声明:本文为CSDN博主「极硬」的原创文章,遵循CC 4.0 BY-SA版权协议,转载请附上原文出处链接及本声明。
原文链接:https://blog.csdn.net/m0_65388573/article/details/124568813