电子元件测量方法，高温老化寿命试验

电子元件测量方法，高温老化寿命试验

很多电子爱好者、初学者在碰到一个半导体器件的时候，需要确认它的型号、功能以及管脚定义，才能够正确使用它。但当你从一块印刷电路板上拆下一个器件，或者从元器件盒中拿出一个器件，除非能够正确辨认出上面的型号，找到对应数据手册文档，否则就需要手工确认它就是是那种类型的三极管、场效应管、晶闸管、二极管、电容、电感等。

当然可以借助手边的万用表进行初步判断，但这费事、费力，不容易测量准确。

▲ 不同种类的半导体元器件

近期从网络上购买了一款GM328AV1.2电子器件测量模块。功能还挺齐全，除了可以对常用到的电阻、电容、电感测量，可以快速判断常见到的半导体器件的型号和部分参数。

本以为实现这个功能，模块上需要集成很多复杂电路来完成。但观察这个模块，除了必要的接口、LCD之外，核心的就是一片ATMEGA328单片机。惊讶于它的功能实现上的简洁明了。

▲ GM328A 模块的正面和反面

在网络上通过GM328A关键词搜索，可以看到这是一个开源的电子项目。在AVR-Transistortester中给出了有von MarkusFrejek这款设计*初雏形(2009)。后经很多电子爱好者进行更新。Karl-Heinz在2015年通过TransistorTesterwith AVR microcontroller and a littlemore对了他的软件开发工作。特别是对这款基于ATMEGA单片机如何实现三极管等电子器件测量的原理进行的详细的讨论。不仅满足了我们的好奇心，其中所使用的一些基本测量原理也对测量电子元器件提供了参考方案。

下面将其中主要测试原理进行介绍，详细方案和资料可以参见网络原文。

02模块原理图

1.原理图

下面是测量模块和核心电路原理图，市面上销售的不同厂家模块会在此基础和有所增加和修改。

▲ 电路原理图

电路下面关于电源控制部分比较经典。通过晶体管T1，T2，T3完成电路的自动关机，关机后的静态功耗只有20nA（也就是T1的漏电流乘以T3的电流增益）。

电路图右上方给出了用于元器件测试端子TP1, TP2, TP3的连接关系。每一个端口实际上与三个ATMEGA单片机管脚相连。

2.测试端口

对于ATMEGA单片机IO口，实际上对于现在大部分的单片机都类似，可以通过软件配置将IO口配置成输入、输出、特殊功能等多种形式。下图显示了ATMEGA单片机典型IO口的等效电路形式。