gjb150a高温试验，国军标检测测试机构
GJB150A-2009中的温度实验有高低温实验，每个又分为循环实验和恒温实验，包含贮存和工作两种状态，实验步骤为:准备试件、测试常温状态数据、设置试验温度、开启温度开关、贮存温度时间不小于2H、工作测试、回升至常温、常温测试为一个循环，在GJB150A-2009中：高温试验为GJB150.03A-2009、低温试验为GJB150.04A-2009。其中低温试验有三个程序段，除特殊情况外，一般制作程序2即可，因程序一为长时间暴露于低温下的条件，程序三为低温下需进行拆卸情况准备的。
GJB150A高温存储试验
环境试验目的：考核在不施加电应力的情况下，高温存储对产品的影响。有严重缺陷的产品处于非平衡态，是一种不稳定态，由非平衡态向平衡态的过渡过程既是诱发有严重缺陷产品失效的过程，也是促使产品从非稳定态向稳定态的过渡过程。
这种过渡一般情况下是物理化学变化，其速率遵循阿伦尼乌斯公式，随温度成指数增加.高温应力的目的是为了缩短这种变化的时间，该实验又可以视为一项稳定产品性能的工艺。
环境试验条件：一般选定一恒定的温度应力和保持时间。微电路温度应力范围为75℃至400℃，试验时间为24h以上。试验前后被试样品要在标准试验环境中，既温度为25土10℃、气压为86kPa~100kPa的环境中放置一定时间。多数的情况下，要求试验后在规定的时间内完成终点测试。
