电子元件冲击试验,电磁屏蔽测试方法

更新:2025-01-19 11:00 编号:18980112 发布IP:112.81.199.217 浏览:18次
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电子元件冲击试验,电磁屏蔽测试方法
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电子元件冲击试验,电磁屏蔽测试方法

PCB板、电子芯片在出厂前需要进行环境测试,模拟PCB板在气候环境下操作及储存的适应性,已确保其在极端环境下也可正常工作。上海伯东代理的Temptronic ThermoStream  高低温测试机可以快速的实现 PCB 板和电子芯片等电子元件的高低温循环测试Thermal cycle、冷热冲击试验 Thermal stock 、老化试验、可靠性试验等。
 

Temptronic ThermoStream ATS-545 M 高低温测试机,温度测试范围:-80°C 至+225°C,每秒可快速升温/降温 18°C,与传统高低温试验箱对比,

inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势:
1、变温速率更快
2、温控精度:±1℃;
3、实时监测待测元件真实温度,可随时调整冲击气流温度
4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块),可单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件
5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击;传统高低温箱无法针对此类测试。
6、对整块集成电路板提供**且快速的环境温度。


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