电子元器件测试中心,快速温变检测

更新:2025-01-19 11:00 编号:18929036 发布IP:112.81.199.217 浏览:15次
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电子元器件测试中心,快速温变检测
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详细介绍

电子元器件测试中心,快速温变检测

速温变测试办理方法


快速温变试验实验室


快速温变试验实验室新引进的快速温变/温度循环试验箱内箱尺寸:高 1200mm、宽 1000mm、深1000mm。温度变化速率可高达15度/min,可以满足民用设备的环境应力筛选试验条件。


快速温度变化试验在实际应用中有两类:


一类为慢速的温度变化试验,其温度变化速率<3℃/min(一般各标准经常选择参数为1℃/min),也既一般应用中的温度变化、温度循环、温度交变试验(此三类为一种试验);


另一类为快速的温度变化试验,其温度变化速率≥3℃/min,也既一般应用中的快速温变试验。温度变化速率越快,考核越严酷。


试验目的

快速温变试验适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等?通过此试验?可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。快速温变试验是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能使用的适应性,适用于学校、工厂、、研位、等单位。

试验应用环境

分析有关技术文件的要求,应用装备(产品)订购过程中实施GJB4239得出的成果,确定装备寿命期内快速温变环境出现的阶段,根据下列环境效应确定是否需要进行本试验。当确定需要进行本试验,且本试验与其他环境试验使用同一试件时,还需确定本试验与其他试验的先后顺序。

环境效应

华耀检测实验室认为温度冲击通常对靠近装备外表面的部分影响更严重,离外表面越远,温度变化越慢,影响越不明显。运输箱、包装等还会减小温度冲击对封闭装备的影响。急剧的温度变化可能会暂时或的影响装备的工作。下面是装备暴露与快速温变环境时可能引发的问题。考虑到以下典型问题有助于确定本试验是否适用于受试装备:

典型物理效应有

玻璃容器和光学仪器的破碎,运动部件的卡紧或松弛,爆炸物中固态药丸或药柱产生裂纹,不同材料的收缩或膨胀率、或诱发应变速率不同,零部件的变形或破裂,表面涂层开裂,密封舱泄漏,绝缘保护失效,

快速温变测试箱,快速温变试验箱

典型化学效应有

各组分分离,化学试剂保护失效,

典型电效应有

电器和电子元器件的变化,快速冷凝水或结霜引起电子或机械故障,静电过量。

试验标准

GB/T 2423.34,IEC 60068-2-38,JB150.5等。


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