固体表面分析

包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面电子的电子云分布和能级结构等。
XPS主要用于固体样品表面的组成、化学状态分析。能进行定性、半定量及价态分析。广泛应用于聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料的研究。
对于块状和薄膜试样直径不要超过8mm，厚度不要超过3mm；对于粉末试样，应在烘烤箱内烘烤后才能测试。