为什么CMOS直读光谱仪能够同时兼具全谱特性和超低检出限，主要源于以下几点：
（1）高灵敏度：科研级CMOS由于近的高像元填充率而拥有用于高光谱成像系统的灵敏度优势，灵敏度好，应用于直读光谱仪，各常见金属分析检测元素元素检出限均可到0.01~10ppm；
（2）光谱范围宽：CMOS光路结构使原来的一段连续光谱分成上下排列的两段光谱，有效的扩展面阵传感器接受光谱的范围，可以接收从深紫外区域到1000nm的波长谱线，能够满足金属样品中各元素的分析；（3）高阻抗：CMOS在电路设计上集成度更高，将A/D转换器集成于芯片内部，直接数字信号输出，大大降低了外围电路的复杂度，降低了整个电路的功耗；CMOS的APS量子效率比较高，直读光谱仪，由于采用了新的消噪技术，输出图形信号质量比以前有许多提高，读出噪声一般为14~100个电子。耗电小，背景小，噪音小，这些都大大提高了光谱仪分析低含量元素的重复性；
（4）数据传输速度快：从CMOS内部结构可以看出，CMOS的光电探测和输出放大器是在像素内部，因此它可以很灵活地将信号读出，而且CMOS光电传感器采集光信号的同时就可以取出电信号，还能同时处理各单元的图像信息，所以CMOS数据传输速度比CCD电荷耦合器快很多。
（5）成本低：科研级CMOS也是面测量，可进行全谱扫描与分析，不需要像PMT那样一个通道必须配置一根管，成本较低；科研级CMOS与光谱仪的结合，是与质量的结合，二者相得益彰，珠联璧合。、高性价比的CMOS直读光谱仪是时代进步的产物，是市场需求的产物，是直读光谱仪行业发展的必然趋势。
碳硫分析仪分析过程中常见故障及处理（上）
故障1：板流不在正常范围（正常为200-600ma）。
故障原因及处理办法：板流小于200ma，说明样品称样量过少。燃烧功率低；非铁磁样品。可增加样品称样量，或增加助溶剂量。
故障2：释放曲线不正常。
故障原因及处理办法：
（1）峰形出现拖尾现象，说明样品称样量多、含量太高难释放、功率低。
（2）释放出双峰，说明高含量样品称量过多。
（3）出峰时间大于20"，说明样品难熔、吹氧不足。
（4）释放时间大于50"，含量高、拖尾；坩埚空白大；分析流气量低。
说明：几种加速剂作用：增强分析体系感应效果（cu、sn）；降低样品材料熔点，熔融完全（fe）；碳、硫溶解度大有利碳硫释放（w、fe），有稀释作用，可提高样品材料熔点帮助释放完全。
6、一台交流稳压器(规格3-5KVA，单相220V) ，式直读光谱仪，稳压精度<0.8%，调整时间<40ms；
7、一块减压表(参考规格：上海减压器厂生产 YQY-12，0-2.5MPA/0- 25MPA)；
8、一台磨样机专用于钢铁试样制备；
9、一台车床于有色试样制备；
10、地线，光电直读光谱仪，对地电阻小于1欧姆；
11、一台适当功率的空调；
12、如气纯度无保障，需配置一台气净化器；
13、对于潮湿地区；
14、如果分析样品外型不适于光谱仪分析要求，请备一台切割机；
15、 一台小型吸尘器，用于清洁火花台(家用吸尘器即可，带有尖咀附件)。
16、选择与本厂直读光谱仪相匹配的控制标。
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