元器件的失效分析，电容器失效分析
电容器的常见失效模式有：
――击穿短路；致命失效
――开路；致命失效
――电参数变化（包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘性能下降或漏电流上升等；部分功能失效
――漏液；部分功能失效
――引线腐蚀或断裂；致命失效
――绝缘子破裂；致命失效
――绝缘子表面飞弧；部分功能失效
引起电容器失效的原因是多种多样的。各类电容器的材料、结构、制造工艺、性能和使用环境各不相同，失效机理也各不一样。
各种常见失效模式的主要产生机理归纳如下。
1失效模式的失效机理
1.1引起电容器击穿的主要失效机理
①电介质材料有疵点或缺陷，或含有导电杂质或导电粒子；
②电介质的电老化与热老化；
③电介质内部的电化学反应；
④银离子迁移；
⑤电介质在电容器制造过程中受到机械损伤；
⑥电介质分子结构改变；
⑦在高湿度或低气压环境中极间飞弧；
1.2引起电容器开路的主要失效机理
①引线部位发生“自愈“，使电极与引出线绝缘；
②引出线与电极接触表面氧化，造成低电平开路；
③引出线与电极接触不良；
④电解电容器阳极引出箔腐蚀断裂；
⑤液体电解质干涸或冻结；
⑥机械应力作用下电介质瞬时开路。
